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多晶硅檢測標(biāo)準(zhǔn)——復(fù)達(dá)檢測中心

多晶硅,是單質(zhì)硅的一種形態(tài)。熔融的單質(zhì)硅在過冷條件下凝固時,硅原子以金剛石晶格形態(tài)排列成許多晶核,如這些晶核長成晶面取向不同的晶粒,則這些晶粒結(jié)合起來,就結(jié)晶成多晶硅。


多晶硅相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)


1、GB/T 38907-2020 節(jié)水型企業(yè) 多晶硅行業(yè)


2、GB/T 18916.47-2020 取水定額 第47部分:多晶硅生產(chǎn)


3、GB/T 10067.416-2019 電熱和電磁處理裝置基本技術(shù)條件 第416部分:多晶硅鑄錠爐


4、GB/T 29054-2019 太陽能電池用鑄造多晶硅塊


5、GB/T 37049-2018 電子級多晶硅中基體金屬雜質(zhì)含量的測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法


6、GB/T 37049-2018 電子級多晶硅中基體金屬雜質(zhì)含量的測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法


7、GB/T 35309-2017 用區(qū)熔法和光譜分析法評價顆粒狀多晶硅的規(guī)程


8、GB/T 25074-2017 太陽能級多晶硅


9、GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化學(xué)分析 輝光放電質(zhì)譜法


10、GB/T 12963-2014 電子級多晶硅


11、GB 51034-2014 多晶硅工廠設(shè)計規(guī)范


12、GB/T 29054-2012 太陽能級鑄造多晶硅塊


13、GB/T 29057-2012 用區(qū)熔拉晶法和光譜分析法評價多晶硅棒的規(guī)程


14、GB 29447-2012 多晶硅企業(yè)單位產(chǎn)品能源消耗限額


15、GB/T 24579-2009 酸浸取.原子吸收光譜法測定多晶硅表面金屬污染物


16、GB/T 32652-2016 多晶硅鑄錠石英坩堝用熔融石英料


17、YS/T 1290-2018 多晶硅生產(chǎn)尾氣中硅烷含量的測定 氣相色譜法


18、DB15/T 1239-2017 多晶硅生產(chǎn)凈化氫氣用活性炭中雜質(zhì)含量的測定 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法


19、YS/T 1195-2017 多晶硅副產(chǎn)品 四氯化硅


20、YS/T 724-2016 多晶硅用硅粉


21、DB53/T 747-2016 多晶硅生產(chǎn)回收氫氣中氯化氫含量的測定 氣相色譜法


22、JC/T 2349-2015 多晶硅生產(chǎn)用氮化硅陶瓷絕緣體


23、YS/T 1061-2015 改良西門子法多晶硅用硅芯


24、YS/T 983-2014 多晶硅還原爐和氫化爐尾氣成分的測定方法


25、DB53/T 618-2014 氣相色譜法測定多晶硅生產(chǎn)中氫化尾氣 組分含量


26、DB65/T 3486-2013 太陽能級多晶硅塊紅外探傷檢測方法


27、DB65/T 3485-2013 太陽能級多晶硅塊少數(shù)載流子壽命測量方法


28、DB53/T 501-2013 多晶硅用三氯氫硅雜質(zhì)元素含量測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法


29、DB53/T 499-2013 多晶硅用三氯氫硅


30、DB53/T 500-2013 多晶硅用三氯氫硅組分含量測定 氣相色譜法


31、DB13/T 1632-2012 太陽能級多晶硅塊


32、DB36/ 652-2012 太陽能級多晶硅單位產(chǎn)品能源消耗限額


33、JC/T 2067-2011 太陽能多晶硅用熔融石英陶瓷坩堝


34、KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣


35、ASTM F1724-1996 用酸性萃取原子吸收光譜法測量多晶硅表面金屬雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法


36、ASTM F1723-1996 用浮區(qū)晶體增長和光譜法評估多晶硅竿材的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)范


37、CSN 34 5911-1986 多晶硅


38、GOST 19658-1981 多晶硅錠.技術(shù)條件


39、MSZ 12435/3-1977 多晶硅.主要技術(shù)特征